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기계硏 나노측정기술 국제표준으로 채택
작성일
2011.01.31
조회수
467
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연합뉴스에 따르면,

   대전 대덕연구개발특구 내 한국기계연구원은 이학주 박사팀이 개발한 나노측정기술이 국제전기기술위원회(IEC)의 국제표준기술로 채택됐다고 31일 밝혔다.

   우리나라에서 개발된 나노측정기술이 국제표준으로 공표된 것은 이번이 처음으로, 나노측정 원천기술의 국제표준 선취권을 확보함에 따라 우리나라가 세계 나노기술 기반 확립을 주도하는 계기를 마련하게 됐다.

   국제표준으로 채택된 이학주 박사팀의 '띠굽힘 시험법' 기술은 길이가 길고 두께가 얇은 마이크로 및 나노 구조물을 변형시키며 하중 등을 간편하고 정확하게 측정하는 방법으로 측정의 자동화는 물론 관련 제품들의 신뢰성 향상에 크게 기여할 수 있을 것으로 기대되고 있다.

   IEC 국제표준명은 '띠굽힘 시험법을 이용한 박막의 인장물성 측정(IEC 62047-8 Ed. 1.0)'으로 오는 4월 책자로 발간되며 IEC는 각국이 국가표준을 제정할 때 이에 준거토록 권고하게 된다.

   이 박사는 "나노측정기술은 나노공정기술을 실제 제품생산에 적용할 때 필수적이지만 지금까지는 측정이 어려워 마이크로 및 나노 구조물 상용화에 걸림돌이 돼왔다"며 "그러나 이번 국제표준 채택으로 신뢰성 문제해결은 물론 우리나라가 13조5천억원 규모의 세계 나노측정기술 산업을 주도하는 계기를 마련하게 됐다"고 말했다.


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출처: 연합뉴스(2011.01.31)